Szukana fraza: [Streszczenie = "W artykule przedstawiono procedury autokalibracji i procedury kalibracji zewnętrznej kart akwizycji danych PXI produkcji National Instruments. Zamieszczono wyniki kalibracji kart serii PXI\-446X wykorzystywanych w Katedrze Metrologii, Elektroniki i Automatyki \(KMEiA\) Politechniki Śląskiej."]
Wyników: 1
Systemy pomiarowe
Musioł, Krzysztof Kampik, Marian Rybski, Ryszard - red.
2020
rozdział w książce