Filtry
  • Kolekcje
  • Publikacje grupowe
  • Typ pliku
  • Autor
  • Współtwórca
  • Tytuł
  • Temat i słowa kluczowe
  • Data wydania
  • Typ zasobu
  • Jezyk
  • Prawa do dysponowania publikacją

Szukana fraza: [Streszczenie = "Opisana metodologia pomiaru zapewnia wysokie dokładności wpasowania stanowisk skanera co przekłada się bezpośrednio na dokładność wyznaczenia odkształceń elementów konstrukcyjnych obiektu. Integracja zastosowanych w badaniach metod pozwala na monitorowanie nie tylko przemieszczeń punktów sieci kontrolnej, ale również konstrukcji jako całości w jednolitym układzie współrzędnych."]

Wyników: 1

obiektów na stronie

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji