Creator:
Musioł, Krzysztof ; Kampik, Marian
Contributor:
Title:
Group publication title:
Subject and Keywords:
karty akwizycji danych PXI ; kalibracja kart akwizycji danych ; metrologia
Abstract_pl:
W artykule przedstawiono procedury autokalibracji i procedury kalibracji zewnętrznej kart akwizycji danych PXI produkcji National Instruments. Zamieszczono wyniki kalibracji kart serii PXI-446X wykorzystywanych w Katedrze Metrologii, Elektroniki i Automatyki (KMEiA) Politechniki Śląskiej. ; Efektem kalibracji jest znaczna poprawa parametrów metrologicznych urządzeń. Wyniki pomiarów napięć otrzymane po adiustacji różnią się od wartości wzorcowych na wyjściu kalibratora nie więcej niż 0.7 mV.
Abstract:
Calibration procedure and requirements for self- and external calibration of National Instrument (NI) PXI data acquisition cards is presented in the paper. Calibration results of the PXI-446X cards used at Department of Measurement Science, Electronics and Control (KMEiA) of Silesian University of Technology are presented. ; The results show that calibration procedure was successful and the metrological parameters of the PXI-446X devices used at KMEiA was improved. Measurement results obtained after adjustment differ from the reference values of the DC voltage calibrator used for the calibration purpose by no more than 0.7 mV.
Publisher:
Zielona Góra: Uniwersytet Zielonogórski, Instytut Metrologii, Elektroniki i Informatyki
Date:
Resource Type:
Format:
Pages:
Language:
License:
CC 4.0 ; click here to follow the link